压接式IGBT和晶闸管器件失效模式与机理研究综述

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罗皓泽, 陈忠, 杨为, 谢佳, 胡迪, 官玮平

Review on Failure Mode and Mechanism of Press-Pack IGBT and Thyristor Devices

LUO Haoze, CHEN Zhong, YANG Wei, XIE Jia, HU Di, GUAN Weiping

中国电力 . 2023, (5): 137 -152 . DOI: 10.11930/j.issn.1004-9649.202210121